Неразрушающий контроль объектов из электропроводящих материалов в импульсных магнитных полях

Аннотация

Проведены измерения величины максимальной тангенциальной составляющей напряженности магнитного поля Нτт на поверхности металлических образцов в зависимости от времени нарастания импульсов тока и от толщины образцов. Найдены эмпирические формулы зависимости HτSm вторичного поля от толщины образцов и от времени нарастания импульсов, которым дано теоретическое объяснение. Изложены способы контроля электрических и магнитных свойств объектов, а также их геометрических параметров и дефектов сплошности в них.