Обнаружение подповерхностных микродефектов методом высокочастотной акустической микроскопии

Корх Ю.В. , Перов Д.В. , Ринкевич А.Б.

Аннотация


Исследована возможность обнаружения подповерхностных дефектов в твердых телах методом сканирующей высокочастотной акустической микроскопии. Проведена оценка влияния искажения фокальной области, аберраций, возникающих при фокусировке под поверхностью твердого тела, на формирующийся выходной сигнал микроскопа с помощью математического моделирования преломления сфокусированных акустических пучков в твердом теле, а также экспериментально на лабораторном сканирующем акустическом микроскопе с частотой зондирующих акустических волн 400 МГц.

Ссылки

  • На текущий момент ссылки отсутствуют.