Осл-диагностика люминесцентных материалов в сканирующем электронном микроскопе

Аннотация

В настоящей работе развиты принципы применения методик оптически стимулированной люминесценции (ОСЛ) в сканирующем электронном микроскопе (СЭМ). Предложена функциональная схема диагностической ОСЛ-приставки для исследования локальных свойств и параметров распределения оптически активных структурных комплексов в широкозонных дозиметрических материалах. На примере анионодефектных монокристаллов a-Al 2O 3 выполнен анализ ОСЛ-зависимостей при варьировании размеров области, облученной электронами. Обоснована возможность ОСЛ-диагностики поверхности твердотельных люминесцентных сред и функциональных матриц с микромасштабным пространственным разрешением.