ИНФОРМАЦИЯ О ЖУРНАЛЕ "ДЕФЕКТОСКОПИЯ"

Основан в 1965 году.

Регистрационный номер и дата принятия решения о регистрации: серия ПИ № ФС77-79412 от 02 ноября 2020 г. (Федеральная служба по надзору в сфере связи, информационных технологий и массовых коммуникаций).

ISSN 0130-3082

Журнал "Дефектоскопия" публикует работы в области физических основ современных методов и средств неразрушающего контроля и технической диагностики, а также новых методик и технических средств контроля изделий и объектов различного назначения, как в условиях производства, так и при эксплуатации.

Как журнал, который входит в международные реферативные базы данных и системы цитирования, по состоянию на 12 апреля 2022 года "Дефектоскопия" входит в действующий Перечень журналов ВАК РФ под № 255 (англоязычная версия) и 556 (русскоязычная версия)  (https://vak.minobrnauki.gov.ru/uploader/loader?type=19&name=3408291001&f=11575). Русскоязычные версии журнала до 2022 года доступны на https://sciencejournals.ru/list-issues/defskop/, а с 2023 по настоящее время - на сайте Российского центра научной информации https://journals.rcsi.science/0130-3082/index.

Англоязычная версия журнала издается под названием Russian Journal of Nondestructive Testing компанией Pleiades Publishing (https://www.pleiades.online/ru/journals/catalog/alphabet/R/) и распространяется издательством Springer (https://link.springer.com/journal/11181).
Russian Journal of Nondestructive Testing индексируется в системах Web of Science, SCOPUS и других.
Импакт-фактор журнала RJNDT по версии JCR (WoS) за 2023 год 0,9 (Q4).
Оценки журнала RJNDT в системе Scopus https://www.scimagojr.com/journalsearch.php?q=17903&tip=sid&clean=0 (Q3).

Главный редактор - Костин Владимир Николаевич - д.т.н., ИФМ УрО РАН, Екатеринбург

Редакционный совет
Добман Герд, - доктор, Фраунгоферовский институт, Саарбрюкен, Германия
Клюев В.В. - академик РАН, МНПО «Спектр», Москва
Курмаев Э.З. - д.ф.-м.н., ИФМ УрО РАН, Екатеринбург
Новиков В.А. - д.т.н., БРУ, Могилев, Беларусь

Редакционная коллегия
Смородинский Я.Г. - д.т.н., зам. гл. ред., ИФМ УрО РАН, Екатеринбург
Василенко О.Н. - к.т.н., отв. секретарь, ИФМ УрО РАН, Екатеринбург
Арнольд В.К. – проф., Саарский университет, Саарбрюкен, Германия
Вавилов В.П. - д.т.н., ТПУ, Томск
Вайнштейн И.А. – проф. РАН, д.ф.-м.н., УрФУ, Екатеринбург
Галахов В.Р. - д.ф.-м.н., ИФМ УрО РАН, Екатеринбург
Грум Я. - профессор, Университет Любляны, Словения
Дымкин Г.Я. - д.т.н., Санкт-Петербург
Жанг Х. - профессор Харбинского института технологий, г. Харбин, КНР
Зацепин А.Ф. - к.т.н., УрФУ, Екатеринбург
Крёнинг М.В. - проф., Саарский университет, Саарбрюкен, Германия, проф., университет Сан-Пауло, Бразилия
Малдаг К. - проф., университет Лаваля, г. Квебек, Канада
Муравьев В.В. - д.т.н., ИжГТУ, Ижевск
Ничипурук А.П. - д.т.н. ИФМ УрО РАН, Екатеринбург
Поволоцкая А.М. - к.т.н., ИМАШ УрО РАН, Екатеринбург
Ринкевич А.Б. - член-корр. РАН, ИФМ УрО РАН, Екатеринбург
Смирнов С.В. - д.т.н., ИМАШ УрО РАН, Екатеринбург
Сясько В.А. - д.т.н. проф. СПГУ, Санкт-Петербург

Техническая редакция